二极管 | 1 | 反向漏电流 | 半导体测试方法测试标准 mil-std-750f:2012 4016.4 | 只测: 0~100ma |
半导体分立器件试验方法 gjb 128a-1997 4016 | 只测: 0~100ma | |||
2 | 反向击穿电压 | 半导体测试方法测试标准 mil-std-750f:2012 4021.2 | 只测: 0~3.5kv | |
3 | 正向压降 | 半导体测试方法测试标准 mil-std-750f:2012 4011.4 | 只测: is:0a~6000a | |
半导体分立器件试验方法 gjb 128a-1997 4011 | 只测: is:0a~6000a | |||
4 | 浪涌电流 | 半导体分立器件试验方法 gjb 128a-1997 4066 | 只测: if:0a~9000a | |
5 | 反向恢复电荷 | 半导体测试方法测试标准 mil-std-750f:2012 3473.1 | 只测: 1nc~100μc | |
反向恢复时间 | 半导体测试方法测试标准 mil-std-750f:2012 3473.1 | 只测: 10ns~2us | ||
6 | 二极管反压变化率 | 半导体测试方法测试标准 mil-std-750f:2012 3476 | 只测: vr:5v~3300v, if:1a~1500a | |
7 | 单脉冲雪崩能量 | 半导体测试方法测试标准 mil-std-750f:2012 4064 | 只测: l:0.01mh~159.9mh, ias:0.1a~1500a | |
稳态热阻 | 半导体测试方法测试标准 mil-std-750f:2012 3136 | 只测: ph:0.1w~80w | ||
8 | 总电容电荷 | 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 iec 60747-2:2016 6.1.8 | 只测: -3kv~3kv,0~1mhz | |
9 | 结电容 | 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 iec 60747-2:2016 6.1.8 | 只测: -3kv~3kv,0~1mhz |
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